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金相表面特征檢測光學顯微鏡和電鏡兩種技術互補




來源:yiyi
時間:2015-6-12 17:27:35

金相表面特征檢測光學顯微鏡和電鏡兩種技術互補


表面檢查

  因為電子被致密材料吸收,對金屬的早期研究就限于復
型技術研究金屬表面,這些工作涉及用適當的代密度材料
制作一個表面的復型,因此這種復型方法的使用受到限制
,不過復型技術仍廣泛地用于定性和定量地評估許多表面
特征。

 在實際場合下,選用電子顯微鏡并不總比選用光學顯微鏡
有益,所以,重要的是要選擇適于一種具體目的的最好技
術,兩種技術互為補充,每種方法都能獲得有用的數據。

  結構的檢查

  用透射電子顯微鏡檢查金屬結構,重要的是要制備能透
過電子事泊金屬薄片,對于鎳來說,就必須要制備1000-
2000A厚的薄片。

  已進行的實驗工作表明,假定在制備薄片時,鍍層的開
始層溶解掉,那么一個特定的鍍層的結構與基底的性質無
關,這就消除了檢查一種結構可能受基底影響的非代表試
樣的可能性,因為高倍放大是可能的。

  但是即使在最高放大倍數下,光亮鎳的結構也不能分辨
,但在顯微鏡內也能進行電子衍射,以致在亮鎳的情況下
,也能獲得某些數據。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.iglsc.tw)

  
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